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DIN-Normenausschuss Technische Grundlagen (NATG)

Kurzreferat

Dieses Dokument legt die Konstruktionsmerkmale und die messtechnischen Merkmale eines berührungslos messenden Gerätes zur Messung der Oberflächentopographie fest, welches eine chromatisch konfokale Sonde verwendet, deren Funktion auf der axialen chromatischen Aberration von weißem Licht beruht. Zusätzliche messtechnische Merkmale können ISO 25178-600 entnommen werden. Da Oberflächenprofile aus Daten der flächenhaften Oberflächentopografie extrahiert werden können, können die in diesem Dokument beschriebenen Verfahren auch auf Profilierungsmessungen anwendet werden.

Beginn

2022-10-18

WI

00290254

Geplante Dokumentnummer

DIN EN ISO 25178-602

Projektnummer

15202842

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 152-03-03 AA - Oberflächen  

Zuständiges europäisches Arbeitsgremium

CEN/TC 290 - Geometrische Produktspezifikationen und -prüfung  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 213/WG 16 - Flächen- und profilhafte Oberflächenbeschreibung  

Ersatzvermerk

Vorgesehen als Ersatz für DIN EN ISO 25178-602:2011-01

Norm-Entwurf

Geometrische Produktspezifikation (GPS) - Oberflächenbeschaffenheit: Flächenhaft - Teil 602: Aufbau und Merkmale von berührungslos messenden Geräten (mit chromatisch konfokaler Sonde) (ISO/DIS 25178-602:2023); Deutsche und Englische Fassung prEN ISO 25178-602:2023
2023-11
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Vorgänger-Dokument(e)

Geometrische Produktspezifikation (GPS) - Oberflächenbeschaffenheit: Flächenhaft - Teil 602: Merkmale von berührungslos messenden Geräten (mit chromatisch konfokaler Sonde) (ISO 25178-602:2010); Deutsche Fassung EN ISO 25178-602:2010
2011-01