2. Mitwirken
3. Normenausschüsse
4. NATG

DIN-Normenausschuss Technische Grundlagen (NATG)

Kurzreferat

Dieses Dokument legt die Konstruktionsmerkmale und die messtechnischen Merkmale von CSI-Systemen zur flächenhaften Messung von Oberflächentopographien fest. Da Oberflächenprofile aus Daten der flächenhaften Oberflächentopographie extrahiert werden können, können die in diesem Dokument beschriebenen Verfahren auch auf Profilierungsmessungen angewendet werden.

Beginn

2022-10-05

WI

00290256

Geplante Dokumentnummer

prEN ISO 25178-604

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 152-03-03 AA - Oberflächen  

Zuständiges europäisches Arbeitsgremium

CEN/TC 290 - Geometrische Produktspezifikationen und -prüfung  

Vorgänger-Dokument(e)

Geometrische Produktspezifikation (GPS) - Oberflächenbeschaffenheit: Flächenhaft - Teil 604: Merkmale von berührungslos messenden Geräten (Weißlicht-Interferometrie) (ISO 25178-604:2013)
2013-08