2. Mitwirken
3. Normenausschüsse
4. NATG

DIN-Normenausschuss Technische Grundlagen (NATG)

Kurzreferat

Dieses Dokument beschreibt den Aufbau und die messtechnischen Eigenschaften von Systemen der Weißlicht-Interferometrie zur flächenhaften Messung der Oberflächentopografie. Da Oberflächenprofile aus Oberflächentopographiedaten extrahiert werden können, lassen sich die in diesem Dokument beschriebenen Methoden auch auf profilhafte Messungen anwenden.

Beginn

2022-10-05

WI

00290256

Geplante Dokumentnummer

prEN ISO 25178-604

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 152-03-03 AA - Oberflächen  

Zuständiges europäisches Arbeitsgremium

CEN/TC 290 - Geometrische Produktspezifikationen und -prüfung  

Vorgänger-Dokument(e)

Geometrische Produktspezifikation (GPS) - Oberflächenbeschaffenheit: Flächenhaft - Teil 604: Merkmale von berührungslos messenden Geräten (Weißlicht-Interferometrie) (ISO 25178-604:2013)
2013-08