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NA 027

DIN-Normenausschuss Feinmechanik und Optik (NAFuO)

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Norm [AKTUELL]

DIN 58172-1
Prüfung von optischen Systemen - Teil 1: Symmetrieabweichungen

Titel (englisch)

Testing of optical systems - Part 1: Deviations from symmetry

Änderungsvermerk

Gegenüber DIN 58172-1:1982 10 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Abschnitt 3 der Ausgabe 1982 (Bezeichnung des Verfahrens) wurde ersatzlos gestrichen; b) Abschnitt 4 der Ausgabe 1982 (Systeme mit ausgedehntem Bildfeld) wurde an DIN ISO 9334 und DIN ISO 9335 angepasst; c) Beschreibung des Interferometers und der interferometrischen Messung wurde gestrichen bzw. durch Verweisung auf ISO 14999-4 ersetzt.

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Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 027-01-02-01 AK - Messverfahren für die Optik  

Ausgabe 2007-07
Originalsprache Deutsch
Preis ab 49,20 €
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