NA 027

DIN-Normenausschuss Feinmechanik und Optik (NAFuO)

Norm [ZURÜCKGEZOGEN]

DIN EN ISO 11145
Optik und Photonik - Laser und Laseranlagen - Begriffe und Formelzeichen (ISO 11145:2006); Deutsche Fassung EN ISO 11145:2006

Titel (englisch)

Optics and photonics - Lasers and laser-related equipment - Vocabulary and symbols (ISO 11145:2006); German version EN ISO 11145:2006

Einführungsbeitrag

Die Überarbeitungen der Internationalen Normen ISO 11145:2001 und ISO 11554:2006 wurden vom ISO/TC 172/SC 9 "Elektrooptische Systeme" zusammen mit dem CEN/TC 123 "Laser und Photonik" vorgenommen. National hat der Arbeitskreis NA 027-01-18-01 AK "Begriffe, Prüfgeräte und Prüfverfahren" des NAFuO an ihrer Erstellung mitgewirkt.
Die Norm DIN EN ISO 11145 definiert die grundlegenden Begriffe, Formelzeichen und Maßeinheiten für den Bereich der Lasertechnik, um den Sprachgebrauch zu vereinheitlichen und zu klaren Definitionen und reproduzierbaren Prüfungen der Laserparameter und laserorientierten Produkteigenschaften zu gelangen.
Die Überarbeitung der ihr zugrunde liegenden Internationalen Norm wurde notwendig, weil einige Begriffe von grundlegender Bedeutung, die im Rahmen der Entwicklung der Prüfnormen für Laserstrahlkenngrößen definiert wurden, in die Terminologienorm ISO 11145 aufgenommen werden sollten. Der Norm-Entwurf war als Änderung 1 zu ISO 11145:2001 veröffentlicht worden. Aus Gründen der besseren Anwendung der Norm wurde dann jedoch beschlossen, eine Neuausgabe von ISO 11145 zu publizieren.
Die Norm DIN EN ISO 11554 legt Prüfverfahren zur Bestimmung der Leistung und Energie von Dauerstrich- und Pulslasern sowie zu den Kenngrößen für das Zeitverhalten fest: Pulsform, Pulsdauer und Pulsfolgefrequenz. Prüf- und Auswerteverfahren für die Leistungsstabilität von Dauerstrichlasern, Energiestabilität von Pulslasern und die Pulsdauerstabilität werden ebenfalls angegeben.
Bei der Überarbeitung von ISO 11554:2003 (DIN EN ISO 11554:2003-10) wurde das relative Intensitätsrauschen RIN als einseitige spektrale Dichte der Leistungsschwankungen als Funktion der Frequenz f neu definiert. Weiterhin wurden die Definition und Prüfverfahren für die Kleinsignal-Grenzfrequenz fc aufgenommen und die Norm um die Bestimmung der Abfallzeit τF aus dem zeitlichen Verlauf der Strahlungsleistung erweitert.

Änderungsvermerk

Gegenüber DIN EN ISO 11145:2002-03 wurden folgende Änderungen vorgenommen: Folgende Begriffe wurden neu aufgenommen: - Fehlwinkel - Elliptizität der Leistungsdichteverteilung - kreisförmige Leistungsdichteverteilung - Strahllagestabilität - astigmatischer Taillenabstand - relativer astigmatischer Taillenabstand - relatives Intensitätsrauschen, RIN

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Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 027-01-18 AA - Laser und elektro-optische Systeme  

Zuständiges europäisches Arbeitsgremium

CEN/TC 123 - Laser und Photonik  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 172/SC 9 - Laser und elektro-optische Systeme  

Ausgabe 2006-07
Originalsprache Deutsch
Übersetzung Englisch
Preis ab 99,10 €
Inhaltsverzeichnis

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