DIN-Normenausschuss Feinmechanik und Optik (NAFuO)
DIN ISO 10110-5
Optik und Photonik - Erstellung von Zeichnungen für optische Elemente und Systeme - Teil 5: Oberflächenformtoleranzen (ISO 10110-5:2007)
Optics and photonics - Preparation of drawings for optical elements and systems - Part 5: Surface form tolerances (ISO 10110-5:2007)
Einführungsbeitrag
Die vorgenannten Normen DIN ISO 10110-5, DIN ISO 10110-14 und DIN ISO 14999-4 sollen im Zusammenhang betrachtet werden.
DIN ISO 14999-4 liefert den theoretischen Hintergrund zur Bestimmung der Angaben für DIN ISO 10110-5 und/oder DIN ISO 10110-14 und gilt für die Interpretation von Daten aus der interferometrischen Messung optischer Bauteile. Diese Norm gibt Definitionen für die Funktionen und Werte an, die zur Spezifikation der Zeichnungsangaben optischer Bauteile und Systeme benötigt werden, und liefert eine Anleitung für die interferometrische Auswertung und die visuelle Analyse.
DIN ISO 10110-5 bezieht sich auf die Formabweichung einer optischen Oberfläche und ermöglicht die Festlegung von Toleranzen für bestimmte Arten von Oberflächenformabweichungen, ausgedrückt in "Interferenzstreifen". Diese Norm gilt sowohl für sphärische als auch für asphärische Flächen. DIN ISO 10110-14 legt die Regeln für die Angabe der zulässigen Deformation einer Wellenfront beim Durchgang durch ein optisches Element oder System oder bei reflektierender Optik, bei der Reflexion an einem optischen Element oder System fest.
Die den nationalen Normen zugrunde liegenden Internationalen Normen sind vom ISO/TC 172/SC 1 "Grundnormen" unter Beteiligung deutscher Experten erarbeitet worden. Das zuständige deutsche Gremium ist der Arbeitsausschuss NA 027-01-02 AA "Grundnormen der Optik" im NAFuO.
Änderungsvermerk
Gegenüber DIN ISO 10110-5:2000-02 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Änderung von Begriffen: - bisher: Passfehler, jetzt: Oberflächenformtoleranz (en: surface form deviation); - bisher: Pfeilhöhenfehler (en: sagitta error), jetzt: Pfeilhöhenabweichung (en: sagitta deviation); - bisher: rotationssymmetrische Unregelmäßigkeit (en: rotationally symmetric irregularity), jetzt: rotationsinvariante Unregelmäßigkeit (en: rotationally invariant irregularity); b) Abschnitt 4.2 "Einheiten": Verwendung der Einheit "Nanometer" neu aufgenommen und in Bezug zu den bisher verwendeten Angaben gesetzt; c) Abschnitt 5.3 "Form der Angabe": Angabe der Wellenlänge in der Form " Lambda = E", sofern abweichend von der Bezugswellenlänge Lambda = 546,07 nm, aufgenommen; d) In ISO 14999-4 verschoben bzw. ersatzlos gestrichen wurden: - Abschnitt 3: alle Begriffe und die zugehörigen Definitionen; - Abschnitt 5 "nicht kreisförmige Prüfbereiche"; - Anhang A "Digitale Interferogrammauswertung"; - Anhang B "Visuelle Interferogrammauswertung"; - Anhang C "Physikalische Bedeutung der rms-Oberflächenformabweichung"; e) Übernahme der Internationalen Norm ISO 10110-5:2007.
