DIN-Normenausschuss Bauwesen (NABau)
DIN 18740-8
Photogrammetrische Produkte - Teil 8: Anforderungen an die Bildqualität (Güte optischer Fernerkundungsdaten)
Photogrammetric products - Part 8: Requirements for image quality (quality of optical remote sensing data)
Einführungsbeitrag
Dieses Dokument gilt für die Bestimmung der Güte optischer Fernerkundungsdaten auf der Grundlage multispektraler Luft- und Satellitenbilder, die mittels digitaler optischer Sensoren (Flächen- oder Zeilenkameras) hergestellt werden. Diese Sensoren müssen messtechnische Anforderungen (radiometrisch und geometrisch) erfüllen. Dieses Dokument wurde vom Arbeitsausschuss NA 005-03-02 AA "Photogrammetrie und Fernerkundung" im DIN-Normenausschuss Bauwesen (NABau) erarbeitet. Es gilt für Daten von digitalen Luftbildkameras sowie von Satellitensystemen und Konstellationen. Satellitengestützte Sensoren stellen inzwischen eine geometrische Auflösung zur Verfügung, die den geometrischen Auflösungen von klassischen, flugzeuggestützten Luftbildkameras nahekommt. Da es generische Unterschiede bezüglich Sensoren und Aufnahmebedingungen zwischen Satelliten und Luftbildsystemen gibt, bezieht sich dieses Dokument auf die Qualitätsuntersuchungen der gelieferten Fernerkundungsdaten. Photogrammetrie und Fernerkundung stellen Verfahren bereit, die aus Bilddaten geometrische und thematische Informationen gewinnen und verarbeiten. Zur Erfassung geobezogener Bilddaten wird eine Vielzahl von Sensoren (zum Beispiel Kameras, Radar, Laser) eingesetzt. Entsprechend der Zielsetzung der Normenreihe DIN 18740 legt das vorliegende Dokument die Qualitätsanforderungen an die Güte von optischen Fernerkundungsdaten fest. DIN 18740 besteht unter dem allgemeinen Titel Photogrammetrische Produkte aus den folgenden Teilen: - Teil 3: Anforderungen an das Orthobild; - Teil 4: Anforderungen an digitale Kameras für Luftbild- und Weltraumphotogrammetrie; - Teil 5: Anforderungen an die Klassifizierung optischer Fernerkundungsdaten; - Teil 6: Anforderungen an digitale Höhenmodelle; - Teil 7: Anforderungen an das Pan-Sharpening.