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DIN-Normenausschuss Beschichtungsstoffe und Beschichtungen (NAB)

Einführungsbeitrag

Dieses Dokument legt Kenngrößen für die Ermittlung der Oberflächenbeschaffenheit durch flächenhafte Messverfahren fest. Es erarbeitet die Terminologie, Konzepte und Kenngrößen bezüglich der flächenhaften Oberflächenbeschaffenheit.
Dieses Dokument ist eine Norm der geometrischen Produktspezifikation (eine allgemeine ISO GPS-Norm nach ISO 14638). Das in ISO 14638 vorgegebene ISO GPS-Matrix-Modell gibt einen Überblick über das ISO GPS-System, von dem dieses Dokument ein Teil ist. Es beeinflusst das Kettenglied B der Normenketten über die flächenhafte Oberflächenbeschaffenheit. Die fundamentalen ISO GPS-Regeln nach ISO 8015 gelten für dieses Dokument, und die Default-Entscheidungsregeln nach ISO 14253-1 gelten für die Spezifikationen, die in Übereinstimmung mit diesem Dokument angefertigt wurden, sofern nicht anders angegeben.
Dieses Dokument (EN ISO 25178-2:2022) wurde vom Technischen Komitee ISO/TC 213 "Dimensional and geometrical product specifications and verification" in Zusammenarbeit mit dem Technischen Komitee CEN/TC 290 "Geometrische Produktspezifikationen und -prüfung" erarbeitet, dessen Sekretariat von AFNOR (Frankreich) gehalten wird. Für die deutsche Mitarbeit ist der Arbeitsausschuss NA 152-03-03 AA "Oberflächen" im DIN-Normenausschuss Technische Grundlagen (NATG) verantwortlich.

Änderungsvermerk

Gegenüber DIN EN ISO 25178-2:2012-09 wurden die folgenden Änderungen vorgenommen: a) Das Dokument wurde fachlich umfangreich überarbeitet und in Übereinstimmung mit der Normenreihe DIN EN ISO 21920 gebracht; detaillierte Änderungen sind in Anhang E angegeben. In den folgenden Aufzählungspunkten wird sich auf die wesentlichen Änderungen beschränkt. b) Hinzufügen der Begriffe 3.1.2 (Oberflächenbeschaffenheit), 3.1.3.2 (zusätzliche Oberfläche), 3.1.6.4 (Nesting-Index), 3.2.5.1 (Tiefe), 3.2.7 (lokale mittlere Krümmung), 3.2.9 (flächenhafte Materialanteilkurve), 3.2.10 (inverser Materialanteil), (3.2.11 Höhendichtekurve), 3.2.15.2 (Winkelamplitudendichte), 3.2.16 (flächenhafte spektrale Leistungsdichte), 3.3.4 (Motif); c) Berichtigung der Begriffsbestimmungen 3.2.3 (V-Kenngröße), 3.2.15.1 (Winkelspektrum), 3.2.15.3 (Winkelleistungsdichte), 3.3.1.2 (Hügel), 3.3.2.2 (Tal), 3.3.8.2 (lokale Höhe des Hügels), 3.3.8.3 (lokale Tiefe des Tals); d) Die Bezugshöhe für den flächenhaften Materialanteil ist jetzt defaultmäßig vom höchsten Punkt statt von der Bezugsoberfläche festgelegt (3.2.8); e) Die Begriffe erste Zerlegungseigenschaft, zweite Zerlegungseigenschaft und dritte Zerlegungseigenschaft wurden entfernt; f) Bild 3 hinzugefügt zur Einführung des Konzepts schmaler Bandpassfilter; g) die Flächenkenngrößen Sdc, Spkx, Svkx, Sak1, Sak2 und Ssw wurden hinzugefügt; h) die Kenngrößen Smrk1 (zuvor Smr1) und Smrk2 (zuvor Smr2) wurden umbenannt; i) die Kenngrößenbeschreibungen für die reduzierte Spitzenhöhe, die reduzierte Talsohlentiefe und das Materialvolumen wurden berichtigt; j) die Kenngrößengleichungen für Vm(p), α(x,y) und β(x,y) wurden berichtigt; k) Unterabschnitt 4.7 zu mehrskaligen geometrischen Kenngrößen (zuvor als fraktale Kenngrößen bezeichnet) wurde neu verfasst und vervollständigt. Einige Kenngrößen wurden entsprechend den ISO-Benennungsregeln umbenannt; l) in Tabelle 2 (Größenmaßkriterien für die Zerlegung) ersetzen die neuen Bezeichnungen AreaS und PerS frühere Bezeichnungen; m) Tabelle 3 (Verfahren zur Ermittlung wesentlicher Merkmale) wurde berichtigt, da bisherige Definitionen von offenen und geschlossenen Motifs fehlerhaft waren; n) in Tabelle 4 festgelegte Attribute wurden zur Vereinheitlichung umbenannt; o) Die FC-Spezifikationszeilen wurden für alle Kenngrößen berichtigt; p) In 5.8.3 und 5.8.5 wurden die Kenngrößen Svd bzw. Svc hinzugefügt, die als Spd bzw. Spc für Talsohlen festgelegt sind; q) 5.9 führt eine Matrix ein, wobei Motif Attribute (Höhe, Fläche, Volumen) als ein Mittelwert, ein Höchstwert oder eine Standardabweichung an Hügeln oder Tälern berechnet werden können; r) 5.9.1 führt eine Matrix von Gestaltkenngrößen ein, die anhand von Motifs berechnet werden können; s) der frühere Anhänge A zur Zerlegung (jetzt in DIN EN ISO 16610-85) und der frühere Anhang D zu Konzeptdiagrammen wurden entfernt; t) Anhang D mit Einzelheiten zur Anwendung von Gradient, Krümmung, entwickeltem Verhältnis und Materialanteil hinzugefügt; u) Anhang F mit einer Zusammenfassung aller Kenngrößen in Tabellen hinzugefügt; v) Anhang G mit einer Darstellung des Arbeitsablaufs der Analyse, der bei der Spezifizierung angewendet wird, hinzugefügt; w) redaktionelle Überarbeitung der Norm und in der deutschen Sprachfassung zusätzliche Korrekturen der Übersetzung von Fachbegriffen.

Dokument: zitiert andere Dokumente

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 152-03-03 AA - Oberflächen  

Zuständiges europäisches Arbeitsgremium

CEN/TC 290 - Geometrische Produktspezifikationen und -prüfung  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 213/WG 16 - Flächen- und profilhafte Oberflächenbeschreibung