DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN 61788-10
; VDE 0390-10:2007-05
Supraleitfähigkeit - Teil 10: Messung der kritischen Temperatur - Kritische Temperatur von Verbundsupraleitern bestimmt durch ein Widerstandsmessverfahren (IEC 61788-10:2006); Deutsche Fassung EN 61788-10:2006
Superconductivity - Part 10: Critical temperature measurement - Critical temperature of composite superconductors by a resistance method (IEC 61788-10:2006); German version EN 61788-10:2006
Einführungsbeitrag
Neben dem kritischen Strom und dem kritischen Magnetfeld ist die kritische Temperatur eine grundlegende Eigenschaft von Stoffen, die Supraleitung zeigen. Die kritische Temperatur ist auch für die praktische Anwendung von Supraleitern von Bedeutung, denn wenn sie hoch ist, wird der Spielraum für die Betriebstemperatur größer und der Leistungsbedarf für die Kühlung niedriger. Die Normung der Messverfahren für die kritische Temperatur ist somit von Nutzen für die Anwender der Supraleiter und dringend erforderlich.
Es gibt eine Reihe von Messverfahren zur Messung der kritischen Temperatur von Supraleitern: die Widerstandsmessmethode, die Messung der Gleichfeldsuszeptibilität mit SQUID-Magnetometer und schwingender Probe (VSM, vibrating sample magnetometer), die Messung der Wechselfeldsuszeptibilität sowie die Messung der spezifischen Wärme usw.
Die Prüfverfahren, die nicht auf der Widerstandsmessmethode basieren, können im Allgemeinen empfindlicher und aussagekräftiger sein und für nichthomogene Stoffe oder Dickfilme, Dünnfilme, Massivmaterialien oder Pulver geeignet sein, bei denen die Widerstandsmessmethode schwer anzuwenden ist.
In dieser Norm wird jedoch die Widerstandsmessmethode behandelt, weil sie einfacher und zuverlässiger ist und bei den meisten industriell eingesetzten Verbundsupraleitern angewendet werden kann.
Die Grundlagen der Norm wurden von der Japan Fine Ceramics Association erarbeitet, einem Mitglied der Arbeitsgemeinschaft VAMAS (Versailles Project on Advanced Materials) TWA 16 (Superconducting materials). Die gründliche Überarbeitung des Norm-Entwurfs wurde hauptsächlich von dem New Materials Center unter der Aufsicht des Japan National Committee und VAMAS durchgeführt.
Die Norm legt ein Widerstandsmessverfahren zur Bestimmung der kritischen Temperatur von Verbundsupraleitern für industrielle Anwendungen fest.
Verbundsupraleiter, die in dieser Norm behandelt werden, sind Cu/Nb-Ti, Cu/Cu-Ni/Nb-Ti und Cu-Ni/Nb-Ti-Leiter, Cu/Nb3Sn und Cu/Nb3Al-Leiter, metallverkleidete MgB2- und metallstabilisierte Bi-System-Oxidsupraleiter sowie Yttrium- oder Selten-Erd-basierte, beschichtete Supraleiter, die eine monolithische Struktur, die Form eines Runddrahtes oder eines flachen oder quadratischen Bandleiters aufweisen und einen einzelnen Supraleiter (Monocoreleiter) oder supraleitende Filamente (Multifilamentleiter) enthalten.
Für die Norm ist das K 184 "Supraleiter" der DKE zuständig.
Änderungsvermerk
Gegenüber DIN EN 61788-10 (VDE 0390-10):2003-05 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Deutliche Ausdehnung des Anwendungsbereiches, der nun auch Cu/Nb3Al-, metallverkleidete MgB2- sowie Yttrium- bzw. Selten-Erd-basierte beschichtete Verbundsupraleiter umfasst; b) Beispiele technischer Änderungen sind die Abmessungen der Montageplatte und die Definition der Biegedehnung.
