NA 022

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

Norm [ZURÜCKGEZOGEN]

DIN EN 60749-21
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 21: Lötbarkeit (IEC 60749-21:2004); Deutsche Fassung EN 60749-21:2005

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 21: Solderability (IEC 60749-21:2004); German version EN 60749-21:2005

Änderungsvermerk

Gegenüber DIN EN 60749:2002-09 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a)Aufteilung der Norm in einzelne Prüfnormen; b)vollständige Neufassung der in DIN EN 60749, Kapitel 2, Abschnitt 2.1 enthaltenen Prüfung. Dies betrifft sowohl das Verfahren als auch die Prüfdurchführung; c)Aufnahme zusätzlicher Festlegungen für die Verwendung bleifreier Lote.

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Zuständiges nationales Arbeitsgremium

DKE/K 631 - Halbleiterbauelemente  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

IEC/TC 47 - Halbleiterbauelemente  

Ausgabe 2005-06
Originalsprache Deutsch
Preis ab 99,10 €
Inhaltsverzeichnis

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