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NA 022

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

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Norm [AKTUELL]

IEC 60512-25-6
Prüfverfahren - Teil 25-6: Prüfung 25f - Augendiagramm und Jitter

Titel (englisch)

Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-6: Test 25f: Eye pattern and jitter

Ausgabe 2004-05
Originalsprache Englisch , Französisch
Preis Auf Anfrage
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