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NA 022

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

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Norm [AKTUELL]

IEC 60749-2 Corrigendum 1
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 2: Niedriger Luftdruck

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure

Ausgabe 2003-08
Originalsprache Englisch , Französisch
Preis Auf Anfrage
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