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NA 022

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

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IEC 60749-14
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 14: Festigkeit der Bauelementeanschlüsse (Unversehrtheit der Anschlüsse)

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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 14: Robustness of terminations (lead integrity)

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