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NA 022

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

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Norm [AKTUELL]

EIA JESD 51-8
Integrated Circuit Thermal Test Method Environmental Conditions - Junction-to-Board

Titel (englisch)

Integrated Circuit Thermal Test Method Environmental Conditions - Junction-to-Board

Ausgabe 1999-10
Originalsprache Englisch
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