DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
IEC 61014
Programme für das Zuverlässigkeitswachstum
Programmes for reliability growth
Einführungsbeitrag
Die Verbesserung der Zuverlässigkeit durch Wachstumsprogramme sollte ein integraler Teil der Entwicklungsaktivitäten eines Produktes sein. Das gilt insbesondere für Entwicklungen, bei denen neuartige oder nicht ausgereifte Techniken, Bauelemente oder große Anteile von Software enthalten sind. In solchen Fällen können Wachstumsprogramme viele Arten von Schwachstellen offen legen, die entwicklungsbedingte Ursachen haben. Dabei kommt es darauf an, die Wahrscheinlichkeit solcher Ausfälle, die ihre Ursache in diesen Schwachstellen haben, so weit wie möglich zu reduzieren, um ihr späteres Auftreten in Abnahmeprüfungen oder im Betrieb zu vermeiden. Eine nachträgliche Änderung des Entwurfs oder der Konstruktion ist dagegen häufig sehr beschwerlich, kostspielig und zeitaufwändig.
Im Gegensatz zu Wachstumsprogrammen steht die Zuverlässigkeitsvorbehandlung durch Beanspruchung ("burn in"), die in DIN IEC 61163-1 beschrieben ist. Deren Ziel ist es, Materialschwachstellen zu erkennen und zu beseitigen. Das ist Teil des Fertigungsprozesses, und man sollte nicht darauf vertrauen, damit Entwicklungsmängel aufdecken zu können.
Obwohl die potenziellen Betriebsprobleme bei Entwicklungsende mit einem Zuverlässigkeitswachstumsprogramm immer noch rechtzeitig aufgedeckt werden können, ist eine Korrektur dann aber bereits teuer und benötigt viel Zeit und Hilfsmittel. Auch die diese Probleme korrigierenden Aktionen sind bedeutend teurer als bei einer frühzeitigen Erkennung und Beseitigung. Die notwendigen, oftmals sehr viel Zeit in Anspruch nehmenden Prüfungen würden zusätzlich ernsthaft den Handel oder den Plan für das Inverkehrbringen des Systems beeinflussen.
Die kosteneffektive Lösung dieser Herausforderungen ist daher ein in die Entwicklungsphase voll integriertes Zuverlässigkeitswachstumsprogramm. Die erforderlichen Labor- und Integrationsprüfungen werden mit angewendet, wodurch die Abhängigkeit von formalen und langwierigen Zuverlässigkeitswachstumsprüfungen reduziert und die Kosten gesenkt werden. Die Norm soll als Anleitung hierzu dienen.
Der Norm-Entwurf zur zweiten Ausgabe der IEC-Norm wurde als DIN IEC 61014:2001-10 veröffentlicht. Eine entsprechende Deutsche Norm ist als DIN EN 61014 in Vorbereitung.
