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NA 022

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

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Norm [AKTUELL]

IEC 60749-16
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 16: Nachweis des Teilchen-Aufprallgeräusches (PIND)

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16: Particle impact noise detection (PIND)

Ausgabe 2003-01
Originalsprache Englisch , Französisch
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