NA 022

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

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Norm [ZURÜCKGEZOGEN]

DIN EN 60749-6
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 6: Lagerung bei hoher Temperatur (IEC 60749-6:2002); Deutsche Fassung EN 60749-6:2003

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature (IEC 60749-6:2002); German version EN 60749-6:2003

Änderungsvermerk

- vollständige Neufassung der in DIN EN 60749, Kapitel 3, Abschnitt 2, enthaltenen Prüfung, so dass dieses Prüfverfahren in einer eigenständigen Norm veröffentlicht werden kann.

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Zuständiges nationales Arbeitsgremium

DKE/K 631 - Halbleiterbauelemente

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

IEC/TC 47 - Halbleiterbauelemente

Ausgabe 2003-04

Originalsprache Deutsch

Preis ab 42,10 €

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Inhaltsverzeichnis

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