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NA 022

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

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Norm [ZURÜCKGEZOGEN]

DIN EN 60749-3
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 3: Äußere Sichtprüfung (IEC 60749-3:2002); Deutsche Fassung EN 60749-3:2002

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual inspection (IEC 60749-3:2002); German version EN 60749-3:2002

Änderungsvermerk

- vollständige Neufassung der in DIN EN 60749, Kapitel 1, Abschnitt 5, enthaltenen Prüfung, sodass dieses Prüfverfahren in einer eigenständigen Norm veröffentlicht werden kann.

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

DKE/K 631 - Halbleiterbauelemente  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

IEC/TC 47 - Halbleiterbauelemente  

Ausgabe 2003-04
Originalsprache Deutsch
Preis ab 34,60 €
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Inhaltsverzeichnis

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