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NA 022

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

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Norm [AKTUELL]

DIN EN 60749-11
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 11: Rascher Temperaturwechsel; Zweibäderverfahren (IEC 60749-11:2002); Deutsche Fassung EN 60749-11:2002

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature; Two-fluid-bath method (IEC 60749-11:2002); German version EN 60749-11:2002

Änderungsvermerk

-vollstandige Neufassung der in DIN EN 60749, Kapitel 3, Abschnitt 1.2, enthaltenen Prüfung, sodass dieses Prüfverfahren in einer eigenständigen Norm veröffentliche werde kann.

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Zuständiges nationales Arbeitsgremium

DKE/K 631 - Halbleiterbauelemente  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

IEC/TC 47 - Halbleiterbauelemente  

Ausgabe 2003-04
Originalsprache Deutsch
Preis ab 56,60 €
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