NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN 61828 [ZURÜCKGEZOGEN] wird in folgenden Dokumenten zitiert:
| Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
|---|---|---|
| DIN CLC/TS 61949 ; VDE V 0754-2:2010-03 | 2010-03 | Ultraschall - Charakterisierung von Feldern - Schätzung der In-situ-Expositionswerte in Ultraschallbündeln mit finiten Amplituden (IEC/TS 61949:2007); Deutsche Fassung CLC/TS 61949:2008 Mehr |
