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NA 022

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

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Norm [AKTUELL]

EN 60749-3
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 3: Äußere Sichtprüfung (IEC 60749-3:2002)

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination (IEC 60749-3:2002)

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

DKE/K 631 - Halbleiterbauelemente  

Ausgabe 2002-08
Originalsprache Englisch
Preis Auf Anfrage
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Inhaltsverzeichnis

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