NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN 60793-1-20 ; VDE 0888-220:2002-10 [ZURÜCKGEZOGEN] zitiert folgende Dokumente:
| Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
|---|---|---|
| IEC 61745 | 1998-08 | Endflächen-Bildanalyseverfahren zur Kalibrierung von Lichtwellenleiter-Geometrie-Prüfanordnungen Mehr |
