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NA 022

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

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Norm [AKTUELL]

EIA JESD 51-1
Integrated Circuit Thermal Measurement Method - Electrical Test Method (Single Semiconductor Device)

Titel (englisch)

Integrated Circuit Thermal Measurement Method - Electrical Test Method (Single Semiconductor Device)

Ausgabe 1995-12
Originalsprache Englisch
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