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NA 022

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

Über DKE Projekte Entwürfe Veröffentlichungen Ersatzlose Zurückziehungen Nationale Gremien Europäische Gremien Internationale Gremien

Norm [AKTUELL]

EN 60512-25-3
Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-3: Prüfung 25c: Veränderungen der Anstiegszeit (IEC 60512-25-3:2001)

Titel (englisch)

Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-3: Test 25c: Rise time degradation (IEC 60512-25-3:2001)

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

DKE/K 651 - Steckverbinder

Ausgabe 2001-10

Originalsprache Englisch

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Inhaltsverzeichnis

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EN 60512-25-3 Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-3: Prüfung 25c: Veränderungen der Anstiegszeit (IEC 60512-25-3:2001)

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

Thomas Sentko

EN 60512-25-3
Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-3: Prüfung 25c: Veränderungen der Anstiegszeit (IEC 60512-25-3:2001)