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NA 022

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

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Norm [ZURÜCKGEZOGEN]

DIN EN 60749
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren (IEC 60749:1996 + A1:2000); Deutsche Fassung EN 60749:1999 + A1:2000

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods (IEC 60749:1996 + A1:2000); German version EN 60749:1999 + A1:2000

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Zuständiges nationales Arbeitsgremium

DKE/K 631 - Halbleiterbauelemente  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

IEC/TC 47 - Halbleiterbauelemente  

Ausgabe 2001-09
Originalsprache Deutsch
Preis ab 141,20 €
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