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NA 022

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

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Norm [AKTUELL]

EN 60747-5-3
Einzel-Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltungen - Teil 5-3: Optoelektronische Bauelemente - Messverfahren (IEC 60747-5-3:1997)

Titel (englisch)

Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Part 5-3: Optoelectronic devices - Measuring methods (IEC 60747-5-3:1997)

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

DKE/UK 631.1 - Einzel-Halbleiterbauelemente  

Ausgabe 2001-07
Originalsprache Englisch
Preis Auf Anfrage
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Inhaltsverzeichnis

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