NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN IEC 60749-10 [AKTUELL] zitiert folgende Dokumente:
| Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
|---|---|---|
| EIA JESD 22-B110B.01 | 2019-06 | Mechanical Shock - Device and Subassembly Mehr |
| EIA JESD 51-10 | 2000-07 | Test Boards for Through-Hole Perimeter Leaded Package Thermal Measurements Mehr |
| EIA JESD 51-11 | 2001-06 | Test Boards for Through-Hole Area Array Leaded Package Thermal Measurements Mehr |
| EIA JESD 51-9 | 2000-07 | Test Boards for Area Array Surface Mount Package Thermal Measurements Mehr |
