DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN IEC 61169-1-5
; VDE 0887-969-1-5:2023-10
Hochfrequenz-Steckverbinder - Teil 1-5: Elektrische Prüfverfahren - Degradation der Anstiegszeit (IEC 61169-1-5:2022); Deutsche Fassung EN IEC 61169-1-5:2022
Radio frequency connectors - Part 1-5: Electrical test methods - Rise time degradation (IEC 61169-1-5:2022); German version EN IEC 61169-1-5:2022
Einführungsbeitrag
Dieser Teil der Normenreihe IEC 61169 enthält Prüfverfahren zur Veränderung der Anstiegszeit des Hochfrequenz(HF)-Steckverbinders. Dieses Dokument ist anwendbar auf Triaxial-, Twinax- und andere Hochfrequenz-Steckverbinder. Dieses Dokument beschreibt die folgenden Punkte: a) Prüfmethode; b) Prüfbedingungen; c) Prüffrequenz und Leistung; d) Tastverhältnis, Impulsdauer oder Zyklus (je nach Bedarf); e) Temperaturen von Innen- und Außenleiter; f) Prüfdauer; g) Prüfeinrichtung; h) Anzahl der Prüflinge; sowie die Einzelheiten zum Prüfbericht. Es gibt keine Einschränkungen im Anwendungsbereich des Dokuments. Dieses Dokument erhöht durch ihre Anwendung die Investitionssicherheit für Hersteller und Anwender und gibt Prüflaboren und Herstellern definierte Angaben zur Prüfung.
