NA 022

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

Norm [AKTUELL]

DIN EN IEC 63287-1
Halbleiterbauelemente - Allgemeine Leitlinien für die Qualifikation von Halbleitern - Teil 1: Leitlinien für die IC-Zuverlässigkeitsqualifikation (IEC 63287-1:2021); Deutsche Fassung EN IEC 63287-1:2021

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Generic semiconductor qualification guidelines - Part 1: Guidelines for IC reliability qualification (IEC 63287-1:2021); German version EN IEC 63287-1:2021

Einführungsbeitrag

Dieser Teil von IEC 63287 enthält Leitlinien für Qualifikationspläne zur Zuverlässigkeit von integrierten Halbleiter-IC-Produkten. Dieses Dokument ist nicht für Militär- und Raumfahrtanwendungen vorgesehen.

Änderungsvermerk

Gegenüber DIN EN 60749-43:2018-05 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Dokument wurde umbenannt und neu nummeriert, um es von IEC 60749 (alle Teile) zu unterscheiden; b) ein neuer Abschnitt im Zusammenhang mit dem Konzept der Familie wurde hinzugefügt und der bestehende Text wurde entsprechend neu nummeriert.

Dokument: zitiert andere Dokumente

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

DKE/K 631 - Halbleiterbauelemente  

Ausgabe 2023-09
Originalsprache Deutsch
Preis ab 146,40 €
Inhaltsverzeichnis

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