DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN IEC 60749-30
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 30: Behandlung nicht hermetisch verkappter oberflächenmontierbarer Bauelemente vor Zuverlässigkeitsprüfungen (IEC 60749-30:2020); Deutsche Fassung EN IEC 60749-30:2020
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing (IEC 60749-30:2020); German version EN IEC 60749-30:2020
Einführungsbeitrag
In diesem Teil von IEC 60749 ist ein Standardverfahren festgelegt, mit welchem die Vorbehandlung (Preconditioning) vor Zuverlässigkeitsprüfungen von nicht hermetisch verkappten oberflächenmontierbaren Bauelementen (SMD, en: surface mount device) bestimmt wird. In diesem Prüfverfahren ist der Ablauf der Vorbehandlungsprozedur für nicht hermetisch verkappte Halbleiter-SMD so festgelegt, dass er repräsentativ für eine industrieübliche Verarbeitung mit mehrfachen Reflowlötungen ist. Gegenüber DIN EN 60749-30:2011-12 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Einfügung eines neuen Abschnitts 3; b) Erweiterung von 6.7 zu Reflowlöten; c) Einfügung erläuternder Anmerkungen und Klarstellungen. Diese SMD werden einer entsprechenden Vorbehandlungssequenz nach diesem Dokument unterzogen, bevor sie spezifischen unternehmensinternen Zuverlässigkeitsprüfungen (Qualifikationsprüfungen und/oder Zuverlässigkeits-Monitorprüfungen) vorgelegt werden, um die Langzeit-Zuverlässigkeit (welche durch das Reflowlöten beeinträchtigt wird) zu bewerten.
Änderungsvermerk
Gegenüber DIN EN 60749-30:2011-12 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Einfügung eines neuen Abschnitts 3; b) Erweiterung von 6.7 zu Reflowlöten; c) Einfügung erläuternder Anmerkungen und Klarstellungen.
