NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN IEC 61300-3-53 ; VDE 0885-300-3-53:2022-09 [AKTUELL] zitiert folgende Dokumente:
| Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
|---|---|---|
| IEC 60793-2-10 | 2019-05 | Lichtwellenleiter - Teil 2-10: Produktspezifikationen - Rahmenspezifikation für Mehrmodenfasern der Kategorie A1 Mehr |
| IEC 60793-2-30 | 2015-06 | Lichtwellenleiter - Teil 2-30: Produktspezifikationen - Rahmenspezifikation für Mehrmodenfasern der Kategorie A3 Mehr |
| IEC 60793-2-40 | 2021-02 | Lichtwellenleiter - Teil 2-40: Produktspezifikationen - Rahmenspezifikation für Mehrmodenfasern der Kategorie A4 Mehr |
| IEC 60825-1 | 2014-05 | Sicherheit von Lasereinrichtungen - Teil 1: Klassifizierung von Anlagen und Anforderungen Mehr |
| DIN EN IEC 60793-2-40 ; VDE 0888-324:2022-09 | 2022-09 | Lichtwellenleiter - Teil 2-40: Produktspezifikationen - Rahmenspezifikation für Mehrmodenfasern der Kategorie A4 (IEC 60793-2-40:2021); Deutsche Fassung EN IEC 60793-2-40:2021 Mehr |
| DIN EN 60793-2-30 ; VDE 0888-323:2016-12 | 2016-12 | Lichtwellenleiter - Teil 2-30: Produktspezifikationen - Rahmenspezifikation für Mehrmodenfasern der Kategorie A3 (IEC 60793-2-30:2015); Deutsche Fassung EN 60793-2-30:2015 Mehr |
| DIN EN 60825-1 ; VDE 0837-1:2022-07 | 2022-07 | Sicherheit von Lasereinrichtungen - Teil 1: Klassifizierung von Anlagen und Anforderungen (IEC 60825-1:2014); Deutsche Fassung EN 60825-1:2014 + AC:2017 + A11:2021 + A11:2021/AC:2022 Mehr |
| DIN EN 61745 | 2018-06 | Endflächen-Bildanalyseverfahren für die Kalibrierung von Prüfeinrichtungen für die Geometrie von Lichtwellenleitern (IEC 61745:2017); Deutsche Fassung EN 61745:2017 Mehr |
| IEC 61745 | 2017-07 | Endflächen-Bildanalyseverfahren für die Kalibrierung von Prüfeinrichtungen für die Geometrie von Lichtwellenleitern Mehr |
