DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN IEC 63185
Messung der komplexen Dielektrizitätskonstante für verlustarme dielektrische Substrate nach dem symmetrischen Kreisscheibenresonatorverfahren (IEC 63185:2020); Deutsche Fassung EN IEC 63185:2021
Measurement of the complex permittivity for low-loss dielectric substrates balanced-type circular disk resonator method (IEC 63185:2020); German version EN IEC 63185:2021
Einführungsbeitrag
Dieses Dokument bezieht sich auf ein Messverfahren für die komplexe Permittivität von dielektrischen Substraten bei Mikrowellen- und Millimeterwellenfrequenzen. Dieses Verfahren wurde entwickelt, um die dielektrischen Eigenschaften verlustarmer Werkstoffe zu bewerten, die in Mikrowellen- und Millimeterwellenschaltungen und -geräten verwendet werden. Es verwendet Moden höherer Ordnung eines symmetrischen Kreisscheibenresonators und ermöglicht die Messung der Bandbreite dielektrischer Substrate unter Verwendung eines einzelnen Resonators, wobei die Wirkung von Anregungsöffnungen auf der Grundlage der Modenanpassungsanalyse berücksichtigt wird. Die Norm beinhaltet die Grundlagen zur Messung, die Beschreibung des Messaufbau, die Kalibrierung und die Durchführung und Auswertung der Messung. Es gibt keine Einschränkungen im Anwendungsbereich des Dokuments. Die Norm erhöht durch ihre Anwendung die Investitionssicherheit für Hersteller und Anwender und gibt Prüflaboren und Herstellern definierte Angaben zur Prüfung.
