NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN IEC 62832-3 [AKTUELL] zitiert folgende Dokumente:
| Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
|---|---|---|
| IEC 62832-1 | 2020-10 | Leittechnik - Grundstruktur der digitalen Fabrik - Teil 1: Allgemeine Grundsätze Mehr |
| IEC 62832-2 | 2020-10 | Industrielle Leittechnik - Grundstruktur der digitalen Fabrik - Teil 2: Modellelemente Mehr |
| ISO/IEC 6523-2 | 1998-12 | Informationstechnik - Struktur für die Kennzeichnung von Organisationen und Teilen von Organisationen - Teil 2: Registrierung von Schemen zur Organisationskennzeichnung Mehr |
| IEC 61987-1 | 2006-12 | Industrielle Leittechnik - Datenstrukturen und -elemente in Katalogen der Prozessleittechnik - Teil 1: Messeinrichtungen mit analogen und digitalen Ausgängen Mehr |
| IEC 61987-10 | 2009-07 | Industrielle Leittechnik - Datenstrukturen und -elemente in Katalogen der Prozessleittechnik - Teil 10: Merkmalleisten (ML) für den elektronischen Datenaustausch - Grundlagen Mehr |
| IEC 61987-10 Corrigendum 1 | 2012-05 | Industrielle Leittechnik - Datenstrukturen und -elemente in Katalogen der Prozessleittechnik - Teil 10: Merkmalleisten (ML) für den elektronischen Datenaustausch - Grundlagen; Korrektur 1 Mehr |
| IEC 61987-11 | 2016-12 | Industrielle Leittechnik - Datenstrukturen und -elemente in Katalogen der Prozessleittechnik - Teil 11: Merkmalleisten (ML) für Messgeräte für den elektronischen Datenaustausch - Allgemeine Strukturen Mehr |
| IEC 61987-12 | 2016-03 | Leittechnik - Datenstrukturen und -elemente in Katalogen der Prozessleittechnik - Teil 12: Merkmalleisten (ML) für Durchflussmessgeräte für den elektronischen Datenaustausch Mehr |
| IEC 61987-13 | 2016-03 | Industrielle Leittechnik - Datenstrukturen und -elemente in Katalogen der Prozessleittechnik - Teil 13: Merkmalleisten (ML) für Druckmessgeräte für den elektronischen Datenaustausch Mehr |
| IEC 61987-14 | 2016-04 | Industrielle Leittechnik - Datenstrukturen und -elemente in Katalogen der Prozessleittechnik - Teil 14: Merkmalleisten (ML) für Temperaturmessgeräte für den elektronischen Datenaustausch Mehr |
