NA 022

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

Norm [AKTUELL]

DIN ISO 2859-2
Annahmestichprobenprüfung anhand von Attributen - Teil 2: Nach der rückzuweisenden Qualitätsgrenzlage (LQ) geordnete Stichprobenanweisungen für die Prüfung einzelner Lose (ISO 2859-2:2020)

Titel (englisch)

Sampling procedures for inspection by attributes - Part 2: Sampling plans indexed by limiting quality (LQ) for isolated lot inspection (ISO 2859-2:2020)

Einführungsbeitrag

Diese Deutsche Norm ist die Übersetzung der Internationalen Norm ISO 2859-2:2020, die im Technischen Komitee ISO/TC 69 "Application of statistical methods" erarbeitet wurde, dessen Sekretariat von ANSI (USA) gehalten wird. Das zuständige deutsche Normungsgremium ist der Arbeitsausschuss NA 147-00-02 AA "Angewandte Statistik" im DIN-Normenausschuss Qualitätsmanagement, Statistik und Zertifizierungsgrundlagen (NQSZ).

Änderungsvermerk

Gegenüber DIN ISO 2859-2:1993-04 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Aufnahme einer Stichprobenanweisung für die Anzahl der Nichtkonformitäten je Einheit im Los; b) Erweiterung des Bereichs der LQ-Vorzugswerte von ursprünglich "0,5 / 0,8 / 1,25 / 2 / 3,15 / 5 / 8 / 12,5 / 20 / 31,5" auf neu "0,05 / 0,008 / 0,125 / 0,2 / 0,315 / 0,5 / 0,8 / 1,25 / 2 / 3,15 / 5 / 8 / 12,5 / 20 / 31,5 / 50 / 80 / 125 / 200 / 315 / 500 / 800 / 1250 / 2000 / 3 150"; c) Tabellen mit den schmalsten Vertrauensbereichen für den Anteil nicht konformer Einheiten im Los zu den Vertrauensniveaus 0,95 und 0,99; d) neue technische Anhänge: Anhang A zu "Statistischen Eigenschaften einzelner Stichprobenanweisungen", Anhang B zur "Berechnung der statistischen Kenngrößen" und Anhang C zu "Informationen über den technischen Hintergrund der Vertrauensbereiche"; e) das Dokument wurde redaktionell überarbeitet.

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Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 147-00-02 AA - Angewandte Statistik  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 69/SC 5/WG 2 - Annahmestichprobenprüfung anhand der Anzahl fehlerhafter Einheiten oder Fehler (Attributprüfung)  

Ausgabe 2021-07
Originalsprache Deutsch
Übersetzung Englisch
Preis ab 129,30 €
Inhaltsverzeichnis

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Sebastian Lentz

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