NA 022

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

DIN EN IEC 63067 ; VDE 0161-107:2021-05 [AKTUELL] zitiert folgende Dokumente:

Dokumentnummer Ausgabe Titel
IEC 60352-2 2006-02 Lötfreie Verbindungen - Teil 2: Crimpverbindungen - Allgemeine Anforderungen, Prüfverfahren und Anwendungshinweise Mehr 
IEC 60529 1989-11 Schutzarten durch Gehäuse (IP-Code) Mehr 
IEC 61820-1 2019-05 Elektrische Anlagen für Beleuchtung und Befeuerung von Flugplätzen - Teil 1: Allgemeine Grundsätze Mehr 
ISO 2859-1 1999-11 Annahmestichprobenprüfung anhand der Anzahl fehlerhafter Einheiten oder Fehler (Attributprüfung) - Teil 1: Nach der annehmbaren Qualitätsgrenzlage (AQL) geordnete Stichprobenanweisungen für die Prüfung einer Serie von Losen anhand der Anzahl fehlerhafter Einheiten oder Fehler Mehr 
DIN EN IEC 61820-1 ; VDE 0161-120-1:2020-10 2020-10 Elektrische Anlagen für Beleuchtung und Befeuerung von Flugplätzen - Teil 1: Allgemeine Grundsätze (IEC 61820-1:2019); Deutsche Fassung EN IEC 61820-1:2019 Mehr 
DIN EN ISO 9001 2015-11 Qualitätsmanagementsysteme - Anforderungen (ISO 9001:2015); Deutsche und Englische Fassung EN ISO 9001:2015 Mehr 
DIN EN 60352-2 2014-04 Lötfreie Verbindungen - Teil 2: Crimpverbindungen - Allgemeine Anforderungen, Prüfverfahren und Anwendungshinweise (IEC 60352-2:2006 + A1:2013); Deutsche Fassung EN 60352-2:2006 + A1:2013 Mehr 
DIN EN 60529 ; VDE 0470-1:2014-09 2014-09 Schutzarten durch Gehäuse (IP-Code) (IEC 60529:1989 + A1:1999 + A2:2013); Deutsche Fassung EN 60529:1991 + A1:2000 + A2:2013 Mehr 
DIN EN 61823 ; VDE 0161-104:2003-10 2003-10 Elektrische Anlagen für Beleuchtung und Befeuerung von Flugplätzen - AGL-Serienkreistransformatoren (IEC 61823:2002, modifiziert); Deutsche Fassung EN 61823:2003 Mehr 
DIN ISO 2859-1 2014-08 Annahmestichprobenprüfung anhand der Anzahl fehlerhafter Einheiten oder Fehler (Attributprüfung) - Teil 1: Nach der annehmbaren Qualitätsgrenzlage (AQL) geordnete Stichprobenpläne für die Prüfung einer Serie von Losen - (ISO 2859-1:1999 + Cor. 1:2001 + Amd.1:2011); Text in Deutsch und Englisch Mehr