NA 022

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

DIN EN IEC 62149-10 ; VDE 0886-149-10:2020-04 [AKTUELL] zitiert folgende Dokumente:

Dokumentnummer Ausgabe Titel
IEC 60068-2-27 2008-02 Umgebungseinflüsse - Teil 2-27: Prüfverfahren - Prüfung Ea und Leitfaden: Schocken Mehr 
IEC 60068-2-6 2007-12 Umgebungseinflüsse - Teil 2-6: Prüfverfahren - Prüfung Fc: Schwingen, sinusförmig Mehr 
IEC 60068-2-78 2012-10 Umgebungseinflüsse - Teil 2-78: Prüfverfahren - Prüfung Cab: Feuchte Wärme, konstant Mehr 
IEC 60749-25 2003-07 Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 25: Zyklische Temperaturwechsel Mehr 
IEC 60749-26 2018-01 Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 26: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Human Body Model (HBM) Mehr 
IEC 60825-1 2014-05 Sicherheit von Lasereinrichtungen - Teil 1: Klassifizierung von Anlagen und Anforderungen Mehr 
IEC 60950-1 2005-12 Einrichtungen der Informationstechnik - Sicherheit - Teil 1: Allgemeine Anforderungen Mehr 
IEC 61300-2-47 2016-05 Lichtwellenleiter - Verbindungselemente und passive Bauteile - Grundlegende Prüf- und Messverfahren - Teil 2-47: Prüfungen - Temperaturschock Mehr 
DIN EN IEC 60749-26 ; VDE 0884-749-26 2018-10 Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 26: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Human Body Model (HBM) (IEC 60749-26:2018); Deutsche Fassung EN IEC 60749-26:2018 Mehr 
DIN EN IEC 61281-1 2019-03 Lichtwellenleiter-Kommunikationsuntersysteme - Teil 1: Fachgrundspezifikation (IEC 61281-1:2017); Deutsche Fassung EN IEC 61281-1:2018 Mehr