NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN 62751-1 ; VDE 0553-751-1:2018-12 [ZURÜCKGEZOGEN] zitiert folgende Dokumente:
Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
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IEC 60747-2 | 2016-04 | Halbleiterbauelemente - Einzel-Halbleiterbauelemente - Teil 2: Gleichrichtdioden Mehr |
IEC 62747 | 2014-07 | Terminologie für Spannungszwischenkreis-Stromrichter (VSC) für Hochspannungsgleichstrom(HGÜ)-Systeme Mehr |
ISO/IEC Guide 98-3 | 2008-09 | Messunsicherheit - Teil 3: Leitfaden zur Angabe der Unsicherheit beim Messen Mehr |
DIN EN 60747-15 | 2012-08 | Halbleiterbauelemente - Einzel-Halbleiterbauelemente - Teil 15: Isolierte Leistungshalbleiter (IEC 60747-15:2010); Deutsche Fassung EN 60747-15:2012 Mehr |
DIN EN 60747-16-1 | 2017-10 | Halbleiterbauelemente - Teil 16-1: Integrierte Mikrowellen-Verstärker (IEC 60747-16-1:2001 + A1:2007 + A2:2017); Deutsche Fassung EN 60747-16-1:2002 + A1:2007 + A2:2017 Mehr |
DIN EN 60747-16-10 | 2005-03 | Halbleiterbauelemente - Teil 16-10: Prüfplan für die Technikanerkennung (Technology Approval Schedule - TAS) für monolithische integrierte Mikrowellenschaltkreise (IEC 60747-16-10:2004); Deutsche Fassung EN 60747-16-10:2004 Mehr |
DIN EN 60747-16-3 | 2018-04 | Halbleiterbauelemente - Teil 16-3: Integrierte Schaltungen zur Frequenzumsetzung von Mikrowellen (IEC 60747-16-3:2002 + A1:2009 + A2:2017); Deutsche Fassung EN 60747-16-3:2002 + A1:2009 + A2:2017 Mehr |
DIN EN 60747-16-4 | 2018-04 | Halbleiterbauelemente - Teil 16-4: Integrierte Mikrowellenschaltkreise - Schalter (IEC 60747-16-4:2004 + A1:2009 + A2:2017); Deutsche Fassung EN 60747-16-4:2004 + A1:2011 + A2:2017 Mehr |
DIN EN 60747-5-2 ; VDE 0884-2:2003-01 | 2003-01 | Einzel-Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltungen - Teil 5-2: Optoelektronische Bauelemente; Wesentliche Grenz- und Kennwerte (IEC 60747-5-2:1997 + A1:2002); Deutsche Fassung EN 60747-5-2:2001 + A1:2002 Mehr |
DIN EN 60747-5-3 ; VDE 0884-3:2003-01 | 2003-01 | Einzel-Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltungen - Teil 5-3: Optoelektronische Bauelemente; Messverfahren (IEC 60747-5-3:1997 + A1:2002); Deutsche Fassung EN 60747-5-3:2001 + A1:2002 Mehr |