NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN IEC 63041-2 [AKTUELL] zitiert folgende Dokumente:
Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
---|---|---|
IEC 60050-561 | 2014-11 | Internationales Elektrotechnisches Wörterbuch - Teil 561: Piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Bauteile und zugehörige Materialien zur Frequenzsteuerung, Frequenzauswahl und Frequenzerkennung Mehr |
IEC 60122-1 ; QC 680000:2002-08 | 2002-08 | Schwingquarze mit bewerteter Qualität - Teil 1: Fachgrundspezifikation Mehr |
IEC 60122-2-1 | 1991-07 | Piezoelektrische Bauteile zur Frequenz-Stabilisierung und -Selektion; Teil 2: Richtlinie für die Anwendung piezoelektrischer Bauteile zur Frequenz-Stabilisierung und -Selektion; Hauptabschnitt 1: Piezoelektrische Bauteile für die Mikroprozessor-Taktversorgung Mehr |
IEC 60444-1 | 1986 | Messung der Schwingquarzparameter durch Anwendung des Nullphasenverfahrens in einem π-Netzwerk; Teil 1: Grundmethode zur Messung der Resonanzfrequenz und des Resonanzwiderstandes von Schwingquarzen in einem π-Netzwerk Mehr |
IEC 60444-9 | 2007-02 | Messung von Schwingquarz-Parametern - Teil 9: Messung der Nebenresonanzen von Schwingquarzen Mehr |
IEC 60642 | 1979 | Piezoelektrische keramische Resonatoren und Resonatorbaueinheiten zur Frequenzerzeugung und -selektion; Kapitel 1: Standardisierte Werte und Bedingungen; Kapitel 2: Meß- und Prüfbedingungen Mehr |
IEC 60862-1 | 2015-08 | Oberflächenwellenfilter (OFW-Filter) mit bewerteter Qualität - Teil 1: Fachgrundspezifikation Mehr |
IEC 61019-1 | 2004-11 | Oberflächenwellenresonatoren (OFW-Resonatoren) - Teil 1: Fachgrundspezifikation Mehr |
IEC 61240 | 2016-10 | Piezoelectric devices - Preparation of outline drawings of surface-mounted devices (SMD) for frequency control and selection - General rules Mehr |
IEC 62276 | 2016-10 | Einkristall-Wafer für Oberflächenwellen-(OFW-) Bauelemente - Festlegungen und Messverfahren Mehr |