NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN 62496-2 [AKTUELL] zitiert folgende Dokumente:
| Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
|---|---|---|
| IEC 62496-2-1 | 2011-07 | Optische Leiterplatten - Grundlegende Prüf- und Messverfahren - Teil 2-1: Messungen - Optische Dämpfung und Isolation Mehr |
| IEC 62614 | 2010-07 | Lichtwellenleiter - Anregungsbedingungen für Mehrmodendämpfungsmessungen Mehr |
| IEC 60793-1-43 | 2015-03 | Lichtwellenleiter - Teil 1-43: Messmethoden und Prüfverfahren - Numerische Apertur Mehr |
| IEC 60825-1 | 2014-05 | Sicherheit von Lasereinrichtungen - Teil 1: Klassifizierung von Anlagen und Anforderungen Mehr |
| IEC 61745 | 2017-07 | Endflächen-Bildanalyseverfahren für die Kalibrierung von Prüfeinrichtungen für die Geometrie von Lichtwellenleitern Mehr |
| IEC 62496-1 | 2008-12 | Optische Leiterplatten - Teil 1: Fachgrundspezifikation Mehr |
| IEC 62496-2-4 | 2013-06 | Optische Leiterplatten - Grundlegende Prüf- und Messverfahren - Teil 2-4: Optische Übertragungsprüfung für optische Leiterplatten ohne Eingangs-/Ausgangsfasern Mehr |
| IEC/TR 62658 | 2013-07 | Roadmap für optische Leiterplatten und ihre zugehörigen Verpackungstechnologien Mehr |
| IEC/TS 62661-2-1 | 2013-08 | Optische Backplanes - Produktspezifikation - Teil 2-1: Optische Backplane mit optischen Leiterplatten und rechtwinkligen optischen Steckverbindern für Mehrkernfasern Mehr |
