DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN 61745
Endflächen-Bildanalyseverfahren für die Kalibrierung von Prüfeinrichtungen für die Geometrie von Lichtwellenleitern (IEC 61745:2017); Deutsche Fassung EN 61745:2017
End-face image analysis procedure for the calibration of optical fibre geometry test sets (IEC 61745:2017); German version EN 61745:2017
Einführungsbeitrag
Diese Internationale Norm beschreibt die Kalibrierung von Prüfeinrichtungen für die Durchführung einer Endflächen-Bildanalyse, die auch als Nahfeld- oder Grautonanalyse bezeichnet wird. Die Grundsätze dürfen jedoch für verschiedene Typen von Prüfeinrichtungen angewendet werden. Die beschriebenen Verfahren sind von Kalibrierlaboren und von den Herstellern und Anwendern von Geometrieprüfeinrichtungen durchzuführen und dienen der Kalibrierung von Geometrieprüfeinrichtungen und der Bewertung der Messunsicherheiten der kalibrierten Prüfeinrichtungen. Die Kalibrierung von Messeinrichtungen für die Faserbeschichtung oder für Kabel gehört nicht zum Anwendungsbereich dieser Norm. Zuständig ist das DKE/UK 412.2 "Komponenten für Kommunikationskabelanlagen" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE.
