DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN 61967-4 Berichtigung 2
Integrierte Schaltungen - Messung von elektromagnetischen Aussendungen im Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz - Teil 4: Messung der leitungsgeführten Aussendungen - Messung mit direkter 1 Ohm/150 Ohm-Kopplung (IEC 61967-4:2002 + A1:2006); Deutsche Fassung EN 61967-4:2002 + A1:2006, Berichtigung zu DIN EN 61967-4:2006-07, (IEC 61967-4:2002/COR1:2017); Deutsche Fassung EN 61967-4:2002/AC:2017-07
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 4: Measurement of conducted emissions - 1 ohm/150 ohm direct coupling method (IEC 61967-4:2002 + A1:2006); German version EN 61967-4:2002 + A1:2006, Corrigendum to DIN EN 61967-4:2006-07, (IEC 61967-4:2002/COR1:2017); German version EN 61967-4:2002/AC:2017-07
Einführungsbeitrag
Hochfrequente Aussendungen integrierter Schaltungen können zur Beeinflussung der immer empfindlicher werdenden elektronischen Bauteile und Systeme, zu Fehlfunktionen oder deren Ausfälle führen. Um diese Gefährdungen der elektronischen Steuerungen von Geräten, Anlagen und Einrichtungen zu vermeiden, ist es erforderlich einheitliche Prüfungen festzulegen, um die elektromagnetischen Störungen von integrierten Schaltungen zu messen und bewerten zu können. Dieser Teil von DIN EN 61967 legt ein Verfahren zur Messung der leitungsgeführten elektromagnetischen Aussendung von integrierten Schaltungen durch direkte Messung des hochfrequenten (HF-)Stromes mit einem 1-Ohm-Tastkopf und Messung der HF-Spannung unter Anwendung eines 150-Ohm-Kopplungsnetzwerkes fest. Diese Verfahren stellen eine hohe Wiederholpräzision und Vergleichbarkeit der EME-Messungen sicher. Mit der vorliegenden Berichtigung wird die in Bild 5 angegebene Allgemeine Messanordnung bezüglich eines darin festgelegten Wertes korrigiert. Zuständig ist das K 631 "Halbleiterbauelemente" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE.
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Zuständiges nationales Arbeitsgremium
DKE/K 631 - Halbleiterbauelemente
