2. Mitwirken
  3. Normenausschüsse
  4. DKE
NA 022

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

Über DKE Projekte Entwürfe Veröffentlichungen Ersatzlose Zurückziehungen Nationale Gremien Europäische Gremien Internationale Gremien
Norm [AKTUELL]

IEC 61745
Endflächen-Bildanalyseverfahren für die Kalibrierung von Prüfeinrichtungen für die Geometrie von Lichtwellenleitern

Titel (englisch)

End-face image analysis procedure for the calibration of optical fibre geometry test sets

Ausgabe 2017-07
Originalsprache Englisch , Französisch
Preis Auf Anfrage
Kaufen bei DIN Media
Inhaltsverzeichnis