DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN 61987-15
Industrielle Leittechnik - Datenstrukturen und -elemente in Katalogen der Prozessleittechnik - Teil 15: Merkmalleisten (ML) für Füllstandsmessgeräte für den elektronischen Datenaustausch (IEC 61987-15:2016); Deutsche Fassung EN 61987-15:2017
Industrial-process measurement and control - Data structures and elements in process equipment catalogues - Part 15: Lists of properties (LOPs) for level measuring equipment for electronic data exchange (IEC 61987-15:2016); German version EN 61987-15:2017
Einführungsbeitrag
Vor der vorliegenden Norm wurden die Anforderungen an Prozessleitgeräte und -systeme durch den Kunden auf verschiedene Art und Weise spezifiziert, wenn Lieferanten oder Hersteller bezüglich Angaben zur Eignung von Geräten angefragt wurden. Die Lieferanten wiederum beschrieben die Geräte anhand ihrer eigenen Dokumentationsschemata, wobei häufig verschiedene Begriffe, Strukturen und Medien (Papier, Datenbanken, CDs, elektronischer Katalog, und so weiter) verwendet wurden. Bei Planungs- beziehungsweise Entwicklungsprozessen war die Situation vergleichbar, wo Geräteinformationen in einer Anzahl unterschiedlicher Systeme der Informationstechnologie (IT) häufig dupliziert wurden. Die vorliegende Norm enthält eine Betriebsmerkmalleiste (BML) für die Beschreibung der Betriebsparameter und die Zusammenfassung der Anforderungen für ein Füllstandsmessgerät sowie eine Gerätemerkmalleiste (GML) für die Beschreibung verschiedener Typen von Füllstandsmessgeräten. Die Strukturen der Betriebs- und der Gerätemerkmalleiste entsprechen den in der IEC 61987-11 definierten allgemeinen Strukturen und stimmen mit den in der IEC 61987-10 definierten Grundsätzen für den Aufbau der Merkmalleisten überein. Von der BML abweichende Aspekte, die für die in Teil 10 beschriebenen verschiedenen Prozesse für den elektronischen Datenaustausch erforderlich sind, werden in der IEC 61987 veröffentlicht. Bibliotheken von Merkmalen und Blöcken, die in den betreffenden ML verwendet werden, sind in den Anhängen C und D aufgeführt. Zuständig ist das DKE/K 931 "Systemaspekte" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE.
