NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN ETS 300323-4 [AKTUELL] zitiert folgende Dokumente:
Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
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ETS 300323-1 | 1994-04 | Funkgeräte und -systeme - Spezifikation der Prüfungen des öffentlichen Zugangsprofils (PAP) zum digitalen euröpäischen Funkfernsprechnetz (DECT) - Teil 1: Übersicht Mehr |
ETS 300323-2 | 1995-06 | Funkgeräte und -systeme - Spezifikation der Prüfungen des öffentlichen Zugangsprofils (PAP) zum digitalen euröpäischen Funkfernsprechnetz (DECT) - Teil 2: Abstrakte Prüffolge (ATS) für PT Mehr |
ETS 300323-3 | 1994-04 | Funkgeräte und -systeme - Spezifikation der Prüfungen des öffentlichen Zugangsprofils (PAP) zum digitalen euröpäischen Funkfernsprechnetz (DECT) - Teil 3: PICS-Formularsatz für PT Mehr |
ETS 300323-4 | 1994-04 | Funkgeräte und -systeme - Spezifikation der Prüfungen des öffentlichen Zugangsprofils (PAP) zum digitalen euröpäischen Funkfernsprechnetz (DECT) - Teil 4: PIXIT-Formularsatz für PT Mehr |
ETS 300323-5 | 1995-06 | Funkgeräte und -systeme - Spezifikation der Prüfungen des öffentlichen Zugangsprofils (PAP) zum digitalen euröpäischen Funkfernsprechnetz (DECT) - Teil 5: Abstrakte Prüffolge (ATS) für FT Mehr |
ETS 300323-6 | 1994-04 | Funkgeräte und -systeme - Spezifikation der Prüfungen des öffentlichen Zugangsprofils (PAP) zum digitalen euröpäischen Funkfernsprechnetz (DECT) - Teil 6: PICS-Formularsatz für FT Mehr |
ETS 300323-7 | 1994-04 | Funkgeräte und -systeme - Spezifikation der Prüfungen des öffentlichen Zugangsprofils (PAP) zum digitalen euröpäischen Funkfernsprechnetz (DECT) - Teil 7: PIXIT-Formularsatz für FT Mehr |
ISO/IEC 9646-1 | 1994-12 | Informationstechnik - Kommunikation Offener Systeme - Methodik der Konformitätsprüfung - Teil 1: Allgemeine Konzepte Mehr |
ISO/IEC 9646-2 | 1994-12 | Informationstechnik - Kommunikation Offener Systeme - Methodik der Konformitätsprüfung - Teil 2: Spezifikation der abstrakten Testsuite Mehr |
ISO/IEC 9646-6 | 1994-12 | Informationstechnik - Kommunikation Offener Systeme - Methodik der Konformitätsprüfung - Teil 6: Profiltestspezifikation Mehr |