DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN 62496-2-4
Optische Leiterplatten - Grundlegende Prüf- und Messverfahren - Teil 2-4: Optische Übertragungsprüfung für optische Leiterplatten ohne Eingangs-/Ausgangsfasern (IEC 62496-2-4:2013); Deutsche Fassung EN 62496-2-4:2013
Optical circuit boards - Basic test and measurement procedures - Part 2-4: Optical transmission test for optical circuit boards without input/output fibres (IEC 62496-2-4:2013); German version EN 62496-2-4:2013
Einführungsbeitrag
Diese Norm beschreibt ein Prüfverfahren für optische Leiterplatten unter Anwendung einer direkten Lichteinstrahlung. Die Eingangsanschlüsse werden direkt beleuchtet und die an den Ausgangsanschlüssen der optischen Leiterplatte abgegebene Lichtstärke wird mit einem Bildflächensensor überwacht. Anschließend wird die überhöhte optische Dämpfung aus der erfassten Gesamtlichtstärke, die von einem Prüfling abgegeben wird, gegenüber der Lichtstärke, die von einem Kontrollmuster abgegeben wird, berechnet. Dieses Verfahren wird verwendet, um den Eingangsanschluss der optischen Leiterplatte in einem größeren Bereich als dem Kernbereich gleichmäßig auszuleuchten, um durch die Verwendung eines Bildflächensensors, die Strahlung eines Bereichsabbildes des korrespondierenden Ausgangsanschlusses der optischen Leiterplatte zu erhalten und um abzuschätzen, ob die erhaltene Strahlung den Vergleich mit der eines Kontrollmusters besteht oder nicht. Der Vorteil dieses Prüfverfahrens ist, dass das Ausrichten zwischen der Einkopplungsfaser und der OCB nicht erforderlich ist. Zuständig ist das DKE/UK 412.2 "Komponenten für Kommunikationskabelanlagen" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE.
