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DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

Einführungsbeitrag

Dieser Teil der IEC 61193 enthält Stichprobenpläne für die Attributprüfung einschließlich von Auswahlkriterien und Umsetzungsverfahren von Stichprobenplänen für Endprodukte von Leiterplatten und Laminaten und fertigungsbegleitende Auditierung. Die dazu angegebenen Grundprinzipien erlauben die Verwendung unterschiedlicher Stichprobenpläne, die entsprechend der Klassifizierung der Bedeutung des Attributs (der Attribute) hinsichtlich der Bauart, der Eignung und der Funktion für ein einzelnes Attribut oder eine Menge von Attributen angewendet werden können. Im Hinblick auf die Einhaltung der Kundenanforderungen ist eine eindeutige Beschreibung von Stichprobenanweisungen in IEC-Normen und in Spezifikationen unerlässlich. Alle Einzelheiten sollten im Hinblick auf ihre Realisierung und Anpassung zur Beurteilung des zu ausliefernden Produkts, auf die Verwendung in der Prozesssteuerung und der statistischen Prozesssteuerung (statistical process control, SPC) oder die Anwendbarkeit dieser Prinzipien beim kontrollierten Experimentieren eindeutig sein. Die allgemeinen Merkmale dieser Prinzipien beziehen sich auf eine allmähliche Minderung, die bei der Prüfung des hergestellten Produktes erforderlich sein kann. Als solche werden sie manchmal als logische Schritte zur Prozessverbesserung bezeichnet. Diese Schritte sind folgende: - Statistische Stichprobennahme: Bestimmung eines angemessenen Umfangs von Mustern aus einem vorgegebenen Los von Erzeugnissen und Anwendung von Statistiken zur Bewertung des Auftretens von Anomalien. - Null-Fehler-Normen: Unternehmen des Versuchs, Fehlerfreiheit in einem Produktionslos durch die Empfehlungen in Normen oder Spezifikationen zu erreichen, die die Produktanforderungen festlegen. - Wirtschaftlichkeit: Festlegung des höchsten Grades der nicht entsprechenden roduktkennwerte, die die Kosten feststellen, die auftreten, wenn diese entdeckt und zufällig an den Kunden geliefert werden (Qualitätskosten) und Festlegung einer annehmbaren Qualitätsbewertungsmethode, um dieses Auftreten zu reduzieren. - Reduzierte Prüfung durch SPC: Schaffung eines Prozesssteuerungsprogramm, das auf Rückweisungskriterien basiert, gefolgt von kontrolliertem Experimentieren zur Verbesserung des Prozesses und dann Anwendung der statistischen Analyse zur Feststellung, dass die Prozessverbesserung das Auftreten dieser Rückweisungskriterien vermindert hat. Die schnelle Entwicklung in der elektronischen Industrie hat dazu geführt, dass der Leiterplattenaufbau oder die Werkstoffe für die Produkte so komplex geworden sind, dass die Qualitätslage der Produkte, die mit bekannten Fehlern geliefert werden, nicht mehr tragbar war. Die zulässige Anzahl fehlerhafter Produkte sollte darauf gerichtet sein, sich in den Verträgen zwischen Hersteller und Abnehmer Null anzunähern. Dieser Umstand hat zur Entwicklung neuer Verfahren der Qualitätssicherung wie der Anwendung der statistischen Prozesssteuerung (SPC) geführt. Aufgrund der nach den AQL-Tabellen zulässigen geringen Anzahl fehlerhafter Produkte wird oft der Ausweg der 100 %-Prüfung gesucht. Gleichzeitig hat sich der Qualitätsgedanke so weit entwickelt, dass die Annahme von Fehlern unmöglich geworden ist, und die herkömmliche Anwendung von AQL-Tabellen sehr stark nachgelassen hat. Es gibt eine beträchtliche Anzahl von ISO-Normen zur Annahmestichprobenprüfung. Die meisten dieser Normen enthalten jedoch Pläne, die es gestatten, dass ein Los angenommen wird, auch wenn die Probe aus dem Los einen oder mehr fehlerhafte Elemente aufweist, auch wenn es einige Ausnahmen gibt (ISO 18414 und ISO 21247). Stichprobenpläne mit der Annahmezahl Null wurden ursprünglich für einen gleichen oder besseren Verbraucherschutz bei einem geringeren Prüfaufwand entwickelt und angewendet, als er mit den entsprechenden Stichprobenplänen erforderlich ist. Die Pläne sind einfach in der Anwendung und in der Verwaltung, weil der Schwerpunkt auf null Fehlern und der Abwendung einer Produkthaftung liegt. Die im vorliegenden Dokument angegebenen Grundprinzipien sind auf die Bereitstellung einer Anzahl von Attributplänen für eine losweise Prüfung ausgerichtet. Die Annahmezahl ist dabei immer Null. Das bedeutet, dass für einen bestimmten Schutzgrad eine Stichprobengröße ausgewählt wird, und wenn ein fehlerhaftes Attribut vorhanden ist bzw. mehrere fehlerhafte Attribute vorhanden sind, das Los zurückgehalten wird. Der Begriff "das Los zurückhalten" bedeutet nicht notwendigerweise eine Zurückweisung. Ein Los wird nicht automatisch angenommen oder zurückgewiesen, wenn eine oder mehrere Nichtübereinstimmung(en) festgestellt wird (werden). Es erfolgt vielmehr nur dann eine Annahme, wenn in der Stichprobe null Fehler festgestellt werden. Die Zurückhaltung des Loses verpflichtet das ingenieurtechnische Personal/Verwaltungspersonal, die Ergebnisse zu überprüfen und das Lot in Abhängigkeit von der Ernsthaftigkeit des Falls zurückzuhalten. Dies richtet sich danach, ob es sich bei dem Attribut um ein kritisches Attribut, ein Hauptattribut oder ein Nebenattribut handelte oder ob die Nichtübereinstimmung mit den Anforderungen als kritischer Fehler, als wesentlicher Fehler oder als geringfügiger Fehler definiert wurde. Das Wort "fehlerhaft" wird in der Qualitätslenkung im Allgemeinen zur Beschreibung eines Teils, eines Bauelements, eines Gegenstands oder einer anderen Produkteinheit mit einem oder mehreren Fehler(n) verwendet. Das Wort "Fehler" wird allgemein zur Beschreibung einer bestimmten nicht übereinstimmenden Eigenschaft einer Produkteinheit benutzt. Zuständig ist das DKE/K 682 "Montageverfahren für elektronische Baugruppen" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE.

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Zuständiges nationales Arbeitsgremium

DKE/K 682 - Aufbau- und Verbindungstechnik für elektronische Baugruppen