DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN 61788-16
; VDE 0390-16:2013-11
Supraleitfähigkeit - Teil 16: Messungen der elektronischen Charakteristik - Leistungsabhängiger Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen (IEC 61788-16:2013); Deutsche Fassung EN 61788-16:2013
Superconductivity - Part 16: Electronic characteristic measurements - Power-dependent surface resistance of superconductors at microwave frequencies (IEC 61788-16:2013); German version EN 61788-16:2013
Einführungsbeitrag
Der Gegenstand dieses Dokuments umfasst die Beschreibung des Standard-Messverfahrens des leistungsabhängigen Oberflächenwiderstandes von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen nach der Saphirresonator-Methode. Messgröße ist die Leistungsabhängigkeit dieses Widerstandes bei der Resonanzfrequenz. Die folgenden geeigneten Messbereiche zur Bestimmung der Oberflächenwiderstände für diese Methode sind: Frequenzen bis maximal 10 GHz Eingangs-Mikrowellenleistung kleiner als 37 dBm (5 W). Die Angaben des Oberflächenwiderstandes bei der gemessenen Frequenz und die auf 10 GHz skalierten Werte sind zum Vergleich anzugeben. Zuständig ist das DKE/K 184 "Supraleiter" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE
