DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
IEC 60747-16-5
Halbleiterbauelemente - Teil 16-5: Integrierte Mikrowellenschaltkreise - Oszillatoren
Semiconductor devices - Part 16-5: Microwave integrated circuits - Oscillators
Einführungsbeitrag
Im Juni 2013 erschien die erste Ausgabe der in Englisch und Französisch vorliegenden Norm innerhalb der insgesamt 16 Normen beziehungsweise Normenreihen umfassenden Reihe IEC 60747 über "Halbleiterbauelemente". Die Norm geht auf einen Vorschlag des Japanischen Nationalen Komitees (Japan (NC)) aus dem Jahr 2006 zurück, der aber zunächst wegen mangelnder Beteiligung von Experten zurückgewiesen wurde. Erst im dritten Anlauf (März 2008) gelang die Aufnahme in das Arbeitsprogramm des IEC/SC 47E "Einzel-Halbleiterbauelemente", jedoch ohne Beteiligung eines deutschen Experten. Der Komitee-Entwurf (CD) erschien 2009 als E DIN IEC 60747-16-5:2009-03 "Halbleiterbauelemente - Teil 16-5: Integrierte Mikrowellenschaltkreise - Oszillatoren(IEC 47E/374/CD:2008)", dann 2010 als Parallele Abstimmung bei CENELEC. Ein deutscher Vorschlag, in die Grenzwerte auch das Kurzschlussverhalten aufzunehmen, scheiterte jedoch (IEC 47E/414/RVC). Erst nachdem der Komitee-Entwurf zur Abstimmung (CDV) 2011 und schließlich der Schlussentwurf (FDIS) im Frühjahr 2013 durch Abstimmung verabschiedet wurden, konnte die Norm entsprechend den Regularien der IEC als Internationale Norm veröffentlicht werden. Verantwortlich für den Inhalt ist die IEC/SC 47E/WG 2.
Die im englischsprachigen Teil 40 Seiten umfassende Norm behandelt die Terminologie, die Grenz- und Kennwerte sowie die Messmethoden der Eigenschaften sowohl von integrierten ungesteuerten als auch spannungsgesteuerten Mikrowellenbauteilen. Ausgenommen sind Oszillatormodule, wie zum Beispiel Synthesizer mit separater Ansteuerung.
Nach den einleitenden Abschnitten 3 und 4 zur Terminologie, den Definitionen, Grenz- und Kennwerten befasst sich der umfangreichere Abschnitt 5 mit fünfzehn für die Praxis wichtigen Messverfahren: von der Bestimmung der Schwingungsfrequenz bis zu Abweichungen von der idealen Abstimm-Empfindlichkeit als Funktion der Regelspannung. Der letzte Abschnitt 6 beschreibt Verfahren zur Verifizierung der Lastfehlanpassungstoleranz und der Lastfehlanpassungsfestigkeit. Schließlich ist in der Bibliographie noch ein Hinweis auf IEC 60679-1:2007 "Quarzoszillatoren mit bewerteter Qualität - Teil 1: Fachgrundspezifikation" enthalten.
Zum Verständnis der vorliegenden Norm IEC 60747-16-5 ist die einleitende Norm IEC 60747-1:2006 "Halbleiterbauelemente - Einzel-Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltungen - Teil 1: Allgemein" erforderlich.
Eine deutsche Übersetzung der Norm ist nicht vorgesehen.
Für diese Norm ist national das Arbeitsgremium DKE/UK 631.1 "Einzel-Halbleiterbauelemente" zuständig.
