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NA 022

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

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Norm [AKTUELL]

EN 60749
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren (IEC 60749:1996)

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods (IEC 60749:1996)

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

DKE/K 631 - Halbleiterbauelemente  

Ausgabe 1999-01
Originalsprache Englisch
Preis Auf Anfrage
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Inhaltsverzeichnis

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