NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN 60747-15 [AKTUELL] zitiert folgende Dokumente:
Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
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IEC 60747-1 | 2006-02 | Halbleiterbauelemente - Einzel-Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltungen - Teil 1: Allgemeines Mehr |
IEC 60270 | 2000-12 | Hochspannungs-Prüftechnik - Teilentladungsmessungen Mehr |
IEC 60747-7 | 2010-12 | Halbleiterbauelemente - Einzel-Halbleiterbauelemente - Teil 7: Bipolartransistoren Mehr |
IEC 60747-8 | 2010-12 | Halbleiterbauelemente - Einzel-Halbleiterbauelemente - Teil 8: Feldeffekttransistoren Mehr |
IEC 60749-21 | 2011-04 | Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 21: Lötbarkeit Mehr |
IEC 60749-25 | 2003-07 | Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 25: Zyklische Temperaturwechsel Mehr |
IEC 60749-34 | 2010-10 | Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 34: Lastwechselprüfung Mehr |