DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN 140401-804
Bauartspezifikation: SMD Schicht-Festwiderstände niedriger Belastbarkeit mit hoher Stabilität - Rechteckig - Stabilitätsklassen 0,1; 0,25; Deutsche Fassung EN 140401-804:2011 + AC:2011 + AC:2012
Detail Specification: Fixed low power film high stability SMD resistors - Rectangular - Stability classes 0,1; 0,25; German version EN 140401-804:2011 + AC:2011 + AC:2012
Einführungsbeitrag
Im Rahmen der regelmäßigen Überprüfung von Fachgrund-, Rahmen- und Bauartnormen im Bereich der Normen der Widerstände wurde die bisherige DIN EN 140401-804 aus dem Jahre 2005 überarbeitet. Diese Bauartspezifikation behandelt SMD Schicht-Festwiderstände niedriger Belastbarkeit mit hoher Stabilität und ist eines von vier Schriftstücken, in denen Festwiderstände für die Oberflächenmontage beschrieben werden: - EN 60115-1, "Festwiderstände zur Verwendung in Geräten der Elektronik - Teil 1: Fachgrundspezifikation" (IEC 60115-1, modifiziert) - EN 140400, "Rahmenspezifikation: Oberflächenmontierbare Festwiderstände (SMD) kleiner Belastbarkeit" - EN 140401, "Vordruck für Bauartspezifikation: Oberflächenmontierbare (SMD) Schicht-Festwiderstände niedriger Belastbarkeit" - EN 140401-804, "Bauartspezifikation: SMD-Schicht-Festwiderstände niedriger Belastbarkeit mit hoher Stabilität - Rechteckig - Stabilitätsklassen 0,1; 0,25" Alle Abschnitte und Tabelleninhalte der Spezifikation wurden komplett überarbeitet und aktualisiert. Wesentliche Teile der Norm befassen sich in dem Kapitel Kenn- und Bemessungswerte unter anderem mit den Themen der Maße und Bemessungswerte, der Lastminderungskurve, des Widerstandsbereichs und der Toleranz des Bemessungswertes, der Veränderung des Widerstandswertes in Abhängigkeit von der Temperatur und bei Erwärmung, der Klimakategorie und der Grenzwerte der Änderung des Widerstandswerts bei Prüfungen. Angaben zu Kennzeichnung, Verpackung und Bestellangaben runden das Kapitel ab. Das Kapitel Qualitätsbewertungsverfahren behandelt neben einem allgemeinen Teil die Bauartzulassung und die Qualitätskonformitätsprüfung. Der normative Anhang A der Spezifikation widmet sich der Bauartzulassung mit fester Stichprobengröße und Prüfplan für die Qualitätskonformitätsprüfung für SMD-Schicht-Festwiderstände niedriger Belastbarkeit. Ein informativer Anhang B enthält Formelzeichen und Abkürzungen. Wesentliche Änderungen gegenüber DIN EN 140401-804:2005-10 sind: - Änderung des Titels; - Einführung einer Prüfung für die Beständigkeit gegen elektrostatische Entladung in 1.6 und Anhang A; - Einführung von Beschreibung und Prüfverfahren für bleifreies Löten in 1.8, 1.10.3 und Anhang A; - Einführung von Kennbuchstaben für den Temperaturkoeffizienten, wie in EN 60062 angegeben; - Überarbeitung der Bestellangaben in 1.9.4; - Überarbeitung der Angaben zur Impulsbelastbarkeit in 1.10.6; - Überarbeitung der Angaben zur Veränderung des Widerstandswerts (Drift) in 1.10.7; - Überarbeitung der Angaben zum Stromrauschen in 1.10.9; - Übernahme der IECQ-Verfahrensregel, IEC QC 001002-3; - Überarbeitung der Stichprobengrößen und der Reihenfolge der Prüfungen im Anhang A. Zuständig ist das GK 613 "Widerstände" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE.
Änderungsvermerk
Gegenüber DIN EN 140401-804:2005-10 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Änderung des Titels; b) Einführung einer Prüfung für die Beständigkeit gegen elektrostatische Entladung in 1.6 und Anhang A; c) Einführung von Beschreibung und Prüfverfahren für bleifreies Löten in 1.8, 1.10.3 und Anhang A; d) Einführung von Kennbuchstaben für den Temperaturkoeffizienten, wie in EN 60062 angegeben; e) Überarbeitung der Bestellangaben in 1.9.4; f) Überarbeitung der Angaben zur Impulsbelastbarkeit in 1.10.6; g) Überarbeitung der Angaben zur Veränderung des Widerstandswerts (Drift) in 1.10.7; h) Überarbeitung der Angaben zum Stromrauschen in 1.10.9; i) Übernahme der IECQ-Verfahrensregel, IEC QC 001002 3; j) Überarbeitung der Stichprobengrößen und der Reihenfolge der Prüfungen im Anhang A.
